IC芯片外观检测系统在IC集成芯片器件生产过程中，芯片的外观质量检测是其中一项必不可少的环节，包括芯片的引脚尺寸、残缺、偏曲、间距不均、平整度差等检测项目，而上述质量问题会直接影响电路产品的质量。外观缺陷的自动检测需要使用电子元件外观检测设备，那么，电子元器件的外观瑕疵缺陷如何检测呢？
外观检测系统的主要功能是什么？
视觉检测系统主要包括缺陷检测，该缺陷检测可检测产品中的各种缺陷，例如尺寸，位置，存在和损坏；作为目标对象的几何形状度量的度量；包括识别去辨认。尺寸代码，字符文本等。
在对电子元器件识别与检测时应按照以下操作进行：
1、要检查元器件的型号、规格、厂商、产地必须与设计要求相符合，外包装完好。
2、电子元器件的电极引线要无压折和弯曲，镀层要完好光洁，无氧化锈蚀。
3、检查电子元器件的外观必须完好，表面有无凹陷、划伤、裂纹等缺陷，外部如有涂层的元器件必须无脱落和擦伤。
4、电子元器件上的型号、规格标记要清晰、完整，色标位置、颜色要满足标准，应认真检查集成电路上的字符。
5、机械结构的元器件尺寸要合格、螺纹灵活、转动手感合适。
6、开关类元器件操作灵活，手感良好;接插件松紧要适宜，接触良好。
各种电子产品中的元器件均有自身特点，检查时要按各元器件的具体要求确定检查内容。
机器视觉检测应用领域领域广泛，如连接器外观检测，电容器外观检测，电感器外观检测，电阻器外观检测，PIN针外观检测，变压器外观检测，晶圆尺寸及外观缺陷检测等。通过视觉检测系统进行的产品检测不会由于疲劳而影响检测的效率和质量，并且非接触式检测不会损坏产品。在扩大人眼视野的同时，还可以维持更长的工作时间。
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