存在的问题
速度慢，在现代高速生产的薄膜生产线上，人工检测难以跟上生产节奏，容易造成检测不及时的情况。
精度低，人眼在检测微小瑕疵时能力有限，像一些小的黑点、晶点或者细微划伤等可能被遗漏。
易疲劳，长时间进行检测工作，检测人员容易疲劳，从而导致检测效率和准确性进一步下降。
漏检率高，由于上述的速度、精度以及疲劳等因素，人工检测存在较高的漏检风险，这可能使有缺陷的薄膜产品流入市场，影响企业声誉和经济效益。
二、薄膜缺陷检测设备概述
（一）工作原理
对于透光率高的薄膜材料，设备采用透射的打光检测方式，即光源在薄膜的下方，相机在薄膜的上方进行图像拍摄；对于不透明的薄膜材料则采用反射的打光方式，即光源与相机在所要检测面的同一侧。
生产线正常运行时，通过如高亮的LED线性聚光冷光源照射生产线表面（根据薄膜透明度选择透射或反射原理），线阵相机实时同步扫描，然后系统将相机采集到的薄膜图像进行处理。例如精谱测控薄膜表面缺陷检测设备通过图像处理单元进行瑕疵分割处理，赛默斐视薄膜缺陷检测设备通过SIMV图像分析软件进行瑕疵处理，利用瑕疵与正常产品图像在灰阶上存在明显差异来发现瑕疵，并能准确反应缺陷的图片、形状、尺寸以及位置等具体信息。
（二）功能特点
操作便捷：操作简单，如只需点击开始、停止即可完成所有操作。
稳定性高：可连续工作在极端温度和厂房环境中，能适应较为复杂的生产环境。
100%幅面表面检测：一旦发现疵点可根据设定发出报警，提示及时修复，避免大量缺陷产品的产生。
完整的表面质量信息：材料表面疵点图像由计算机进行保存，每卷产品都有完全的疵点图像/位置和数量等信息，产品幅面边缘根据需要可以进行自动贴标。
高精度检测：部分设备可100%检测出0.02平方毫米以上的疵点缺陷，满足客户不断提升的产品品质要求。
软件数据库管理功能：可以对生产的每卷材料进行精确的质量统计，详细的缺陷记录（大小和位置）和统计为生产工艺及设备状态调整提供方便；离线分析，用于后续分切和质量管理，可有效保证产品质量。
定位标识功能：每生产一卷产品，系统会自动对这一卷产品的表面缺陷进行统计，同时打印出统计标签，贴在每一卷产品上，跟随产品发放下游。
系统联动功能：当系统检测到疵点时进行声光报警，也可在系统中加入其他连锁I/O输出。
数据导出方便：可一键导出EXCEL缺陷明细表，便于用户做进一步的查询、分析，建档。
三、人工与设备检测相结合的优势
在薄膜缺陷检测中，如果将人工与设备检测相结合，可以发挥各自的优势。
设备初步检测：利用薄膜缺陷检测设备进行大规模、快速、高精度的初步检测，能够快速筛选出存在明显缺陷的薄膜产品，设备可以在高速生产过程中持续工作，大大提高检测效率和覆盖范围。
人工复查抽检：人工可以对设备检测结果进行复查抽检，特别是对于一些设备难以准确判断或者需要主观判断的瑕疵类型（例如某些特殊形状的瑕疵是否会对产品功能产生影响等），人工可以凭借经验进行判断，进一步降低漏检率，保证产品质量。
