在缺陷检测中，为了减少阴影干扰，选择光源时需要综合考虑光源类型、光照方式、以及光源的均匀性和亮度调节等因素。以下是具体的选择策略：
1. 选择合适的光源类型：
不同类型的光源适用于不同类型的缺陷检测。例如，白光光源适合一般表面检测，能够提供均匀的照明，有助于减少阴影干扰。
对于特定类型的缺陷，如表面微小的划痕或化学物质残留，可以选择特定波长的光源进行准确检测。
2. 采用适当的光照方式：
同轴照明：用于表面反射强的物体，可减少高光斑，适合平面物体表面缺陷检测，有助于消除不均匀物体外观造成的阴影。
漫射照明：通过散射光线照射目标，减少阴影和反光，适合纹理复杂的表面检查。
背光照明：从被检物背面照亮，突出轮廓或透明度差异，适用于孔径、裂纹和厚度测量，也能有效减少正面阴影的干扰。
3. 确保光源的均匀性和亮度调节：
高品质的光源应提供均匀的照度，避免局部过亮或过暗造成图像失真，从而减少阴影的产生。
光源应具备亮度调节功能，以便在不同的环境光条件下或针对不同检测需求时，调整至最适宜的亮度水平，进一步减少阴影干扰。
4. 考虑工作距离和光源装置的形状与大小：
不同的工作距离需要采用不同的光源，以确保适当的光照强度和角度，从而减少阴影。
根据检测使用环境的安装条件和目标尺寸大小，选择合适的光源装置形状和大小，也有助于优化照明效果，减少阴影干扰。
通过合理选择光源类型、采用适当的光照方式、确保光源的均匀性和亮度调节功能，以及考虑工作距离和光源装置的形状与大小，可以有效减少缺陷检测中的阴影干扰，提高检测的准确性和可靠性。
