IC芯片视觉检测（芯片视觉外观缺陷检测方案）
随着芯片技术和芯片封装技术的不断革新，芯片面积和封装面积都朝着更小、更轻、更薄化发展，引脚数增多，引…
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芯片外观视觉检测方案
选用的是1个500万彩色相机（像素组成2592*1944）在4mm的视野范围内进行检测以下评估内容1…
芯片缺陷检测(芯片外观缺陷检测系统方案)
随着科技的发展，在现在的工业市场上，芯片的品种非常多，并且在不断增加。每种芯片产量少则几千件，多则上…
芯片视觉检测，芯片外观缺陷检测系统方案
电路板高度检测，包含器件超高或接插件焊脚超高等检测 芯片检测 电路板锡膏厚度检测 连接器测量 CCM…
芯片视觉检测，芯片尺寸自动视觉检测系统
案例系列：芯片尺寸检测 芯片尺寸检测系统对芯片的各部分位置尺寸进行检测。芯片尺寸检测系统简单设定后，…
